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高精度薄膜测厚仪 LC-CH-01发布日期:2024-05-08 09:50:17   点击:279

主要技术特性
类 型:接触式测厚仪
检测范围:0-1000um
分 辨 率:0.1um
重复精度:±0.3um
平台尺寸:100*150mm
测 力:0.1-0.75N
气源压力:0.2-0.6MPa
提升方式:气动真空提升
测试速度:手动模式无限制
操作温度:10~40℃
供电电源:AC 115V至230V,50~60Hz
响应速度:0.1s
显示方式:TFT彩色液晶显示
显 示 器:4.3“触摸屏
工作台尺寸:100mm×150mm×250mm(可按要求定制)




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